我公司“電子散斑干涉儀“得到0.5-0.7nm重復(fù)精度并成功應(yīng)用于復(fù)合材料溫度敏感性及熱穩(wěn)定性測(cè)試。

2015-01-28 0

西安光學(xué)精密機(jī)械研究所在復(fù)合材料性能測(cè)試中需要對(duì)材料的溫度敏感指數(shù)及熱穩(wěn)定性進(jìn)行測(cè)試，并且需要測(cè)量?jī)x器本身測(cè)試數(shù)據(jù)的可重復(fù)性在2nm精度以內(nèi)，要求較高。最終采用我公司電子散斑干涉儀進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)并達(dá)到了實(shí)驗(yàn)要求，測(cè)量?jī)x器本身的重復(fù)精度為0.5-0.7nm，完成了非接觸式精確穩(wěn)定測(cè)量實(shí)驗(yàn)試件施加載荷后的位移及應(yīng)變的任務(wù)。相關(guān)文獻(xiàn)可通過本站“專利論文”專區(qū)下載。