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  我公司最新研發(fā)的高精度三維變形測量系統(tǒng)，采用紅、藍(lán)、綠三色激光器，變形位移測量精度高，屬于可見光波長級，即亞微米，特定條件下可達(dá)納米級。采用自編的獨(dú)一無二、高效且快速的條紋圖像處理以及數(shù)值差分算法計(jì)算各變形分量的空間導(dǎo)數(shù)，不需要實(shí)體物理剪切硬件，可同時獲取(準(zhǔn))平表面全應(yīng)變六個分量，即e_xx = ?u/?x, e_yy = ?v/?x, g_xy = ?u/?y, g_yx = ?v/?x, e_zx = ?w/?x及e_zy = ?w/?y?；谙到y(tǒng)實(shí)測變形數(shù)據(jù)計(jì)算出的應(yīng)變精度不劣于10me。由于采用單像素為差分步長，差分法得到的應(yīng)變值相當(dāng)于標(biāo)距0.05-0.1mm長度內(nèi)的相對變形量，比常規(guī)電阻應(yīng)變片(長度至少1mm)測得的精度更高。

測量系統(tǒng)可用于科研測量研究，測量材料包括脆性材料、顆粒多體及電路板與電子元件等。要求構(gòu)件被測量時有良好的約束，剛性位移或轉(zhuǎn)動很小，建議采用三點(diǎn)彎，四點(diǎn)彎，懸臂板、梁等約束加載方式，柱狀、環(huán)狀試件建議采用對徑受壓方式加載。